Nadgradnja mikroskopa AFM - XE-100
Tip opreme: Nadgradnja "Atomic
Force Microscope" - AFM z akustičnim ohišjem in dodatni xy-"stage
controlerjem"
Proizvajalec / znamka:
PARK
Model:
XE-100
Možnosti / namen uporabe:
- Nekontaktna topografija
(NC-AFM)
- Kontaktna topografija (C-AFM)
- Nano-meritve površinske
energije
Primeri uporabe za analizo polimerov / informacije, ki jih lahko dobimo s to metodo za polimere:
- velikost in oblika
delcev v območju 1nm – 2µm
- topografija površine
do dimenzij 40 x 40µm
- Nano – meritve
površinske energije
Merilno območje:
Omejitve glede
vzorcev:
- Velikost vzorca do
fi1.5cm
- Tekoče ali trdno
agregatno stanje – meritve zgolj na trdnem vzorcu (priprava dovolj tankih
filmov za topografijo)
Omejitve glede
pogojev: Normalni pogoji (T =
ca. 25°C, p = ca. 1atm)
