Koporativna navigacija
Jeziki
 Izberite jezik: RSS
Prijava uporabnika
Prijava uporabnika


Pozabljeno geslo?
Inner Photo

PoliMat: Raziskovalno razvojna oprema | Nadgradnja mikroskopa AFM XE 100
Vsebina

Mikroskop AFM - XE-100


Tip opreme: Nadgradnja "Atomic Force Microscope" - AFM z akustičnim ohišjem in dodatni xy-"stage controlerjem"    

Proizvajalec / znamka: PARK 

Model: XE-100

Možnosti / namen uporabe:

  • Nekontaktna topografija (NC-AFM) 
  • Kontaktna topografija (C-AFM) 
  • Nano-meritve površinske energije 


Primeri uporabe za analizo polimerov / informacije, ki jih lahko dobimo s to metodo za polimere: 

  • velikost in oblika delcev v območju 1nm – 2µm 
  • topografija površine do dimenzij 40 x 40µm 
  • Nano – meritve površinske energije 


Merilno območje:    

Omejitve glede vzorcev:

  • Velikost vzorca do fi1.5cm 
  • Tekoče ali trdno agregatno stanje – meritve zgolj na trdnem vzorcu (priprava dovolj tankih filmov za topografijo)  


Omejitve glede pogojev: Normalni pogoji (T = ca. 25°C, p = ca. 1atm)






 
Zadnje novice
22.01.2014Delo CE PoliMaT izredno pozitivno ocenjeno na okrogli mizi v Evropskem parlamentu
17. decembra 2013 je CO PoliMaT v Bruslju predstavil rezultate delovanja in razvojne usmeritve centra na okrogli mizi z naslovom “Vloga E......več

Noga
Pravno obvestilo | Politika zasebnosti | O avtorjih